Contamination control in trace element analysis

著者

• Zief, Morris
• Mitchell, James W.

書誌事項

Contamination control in trace element analysis

Morris Zief, James W. Mitchell

（Chemical analysis, v. 47）

Wiley, c1976

注記

"A Wiley-Interscience publication."

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA04611429
• ISBN:
  • 0471611697
• LCCN: 76016837
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 262 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD139.T7
  • DC : 545
• 件名:
  • LCSH : Trace elements -- Analysis
  • LCSH : Contamination (Technology)
• 親書誌ID:
  • BA00071272