Measuring intelligence : a guide to the administration of the new revised Stanford-Binet tests of intelligence

著者

• Terman, Lewis Madison
• Merrill, Maud A.

書誌事項

Measuring intelligence : a guide to the administration of the new revised Stanford-Binet tests of intelligence

by Lewis M. Terman and Maud A. Merrill

（Riverside textbooks in education）

Houghton Mifflin company, [c1937]

タイトル別名

Stanford-Binet tests for intelligence

Terman and merrill

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA07029478
• LCCN: 37004449
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston ; New York
• ページ数/冊数: xi, 460 p.
• 大きさ: 21 cm
• 分類:
  • LCC : LB1131
  • DC : 151.22222
  • DC : 159.9282222
• 件名:
  • LCSH : Educational tests and measurements
• 親書誌ID:
  • BA00478189