Computed electron micrographs and defect identification

著者

• Head, A. K.

書誌事項

Computed electron micrographs and defect identification

A. K. Head ... [et al.]

（Defects in crystalline solids, v. 7）

North-Holland , American Elsevier, 1973

• American Elsevier

注記

Bibliography: p. [387]-389

• NII書誌ID(NCID): BA07250178
• ISBN:
  • 0720417570
  • 0444104623
• LCCN: 72093092
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Amsterdam ; London,New York
• ページ数/冊数: x, 400 p. with illus
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : QD921
  • DC : 548/.842/02854
• 件名:
  • LCSH : Metals -- Defects -- Data processing
  • LCSH : Electron microscopy -- Data processing
• 親書誌ID:
  • BA00818709