書誌事項

Applied logistic regression

David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow

(Wiley series in probability and mathematical statistics, . Applied probability and statistics)

Wiley, c1989

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注記

Bibliography: p. 291-300

Includes index

"A Wiley-Interscience publication."

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA07517813
  • ISBN
    • 0471615536
  • LCCN
    89031893
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York
  • ページ数/冊数
    xiii, 307 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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