Modern developments in electron microscopy

著者

• Siegel, Benjamin Morton

書誌事項

Modern developments in electron microscopy

edited by Benjamin M. Siegel

Academic Press, 1964

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA1008159X
• LCCN: 63016977
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York ; London
• ページ数/冊数: xiii, 432 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • DC18 : 535.3325
  • NLM : QH205
• 件名:
  • MESH : Microscopy, Electron