Semiconductor material and device characterization

著者

• Schroder, Dieter K.

書誌事項

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder

Wiley, c1990

注記

"A Wiley-Interscience publication."

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA10754759
• ISBN:
  • 0471511048
• LCCN: 89024881
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xv, 599 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC611
  • DC20 : 621.381/52
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors
  • LCSH : Semiconductors -- Testing