Physical measurement and analysis of thin films

著者

• Eastern Analytical Symposium
• Murt, E. M.
• Guldner, W. G.

書誌事項

Physical measurement and analysis of thin films

edited by E. M. Murt and W. G. Guldner

（Progress in analytical chemistry, v. 2）

Plenum Press, 1969

注記

Includes bibliographies

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA11236002
• LCCN: 68031239
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xi, 194 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QC176
  • DC : 530.4/1
• 件名:
  • LCSH : Thin films -- Addresses, essays, lectures
• 親書誌ID:
  • BA11236090