VLSI system test : cost versus quality : 1990 IEEE Test Symposium, April 10-11, 1990, Bally's Park Place Casino Hotel, Atlantic City, NJ
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VLSI system test : cost versus quality : 1990 IEEE Test Symposium, April 10-11, 1990, Bally's Park Place Casino Hotel, Atlantic City, NJ
IEEE Computer Society Press, 1990]
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VLSI system test : cost vs. quality
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注記
At head of title: IEEE Philadelphia Section. IEEE Computer Society, Test Technology Committee
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