Atomic migration and defects in materials

著者

• Gupta, D.
• Jain, H.
• Siegel, Richard W.

書誌事項

Atomic migration and defects in materials

edited by D. Gupta, H. Jain and R.W. Siegel

Sci-Tech Pub., c1991

注記

"Volume 75 of Defect and Diffusion Forum"--T.p. verso

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA12214071
• 出版国コード: lh
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Vaduz, Liechtenstein
• ページ数/冊数: 238 p.
• 大きさ: 26 cm