Intelligence and attainment tests

著者

• Vernon, Philip Ewart

書誌事項

Intelligence and attainment tests

[by] P.E. Vernon

Univ. of London Press, 1960

注記

Bibliography: p. [193]-200

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA17704089
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: 207 p.
• 大きさ: 23 cm
• 件名:
  • FREE : Mental tests