Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing

著者

• Rajsuman, Rochit

書誌事項

Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing

Rochit Rajsuman

（The Artech House telecommunication library）

Artech House, c1992

注記

"Annotated bibliography": p. 303-310

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA1863679X
• ISBN:
  • 0890065802
• LCCN: 92007350
• LCCN: 92008800
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xv, 317 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7888.4
  • DC20 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Electronic digital computers -- Circuits -- Testing -- Data processing
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale -- Testing -- Data processing
  • LCSH : Fault-tolerant computing
• 親書誌ID:
  • BA00899063