Semiconductor measurements and instrumentation

著者

• Runyan, W. R.

書誌事項

Semiconductor measurements and instrumentation

W. R. Runyan

（Texas Instruments electronics series）

McGraw-Hill, [1975]

International student edition

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA1952825X
• ISBN:
  • 0070542732
• LCCN: 75019035
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: vii, 280 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.24
  • DC : 537.6/22
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors
• 親書誌ID:
  • BA07535225