Characterization of semiconductor materials

著者

• Kane, Philip F.
• Larrabee, Graydon B.

書誌事項

Characterization of semiconductor materials

Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee

（Texas Instruments electronics series）

McGraw-Hill, c1970

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA19674681
• ISBN:
  • 0070332738
• LCCN: 79081607
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xvi, 351 p.
• 大きさ: 26 cm
• 親書誌ID:
  • BA07535225