Electromigration and electronic device degradation

著者

• Christou, Aris

書誌事項

Electromigration and electronic device degradation

edited by Aris Christou

Wiley, c1994

• : cloth : alk. paper

タイトル別名

Electromigration & electronic device degradation

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA22413336
• ISBN:
  • 0471584894
• LCCN: 93016841
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 343 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.3815
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Deterioration
  • LCSH : Semiconductors -- Failures
  • LCSH : Electrodiffusion