X-ray spectrometry in electron beam instruments

著者

• Williams, David B. (David Bernard)
• Goldstein, Joseph
• Newbury, Dale E.

書誌事項

X-ray spectrometry in electron beam instruments

edited by David B. Williams, Joseph I. Goldstein, and Dale E. Newbury

Plenum Press, c1995

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA27444133
• ISBN:
  • 0306448580
• LCCN: 94045877
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xviii, 372 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QC793.5.E622
  • DC20 : 543/.08586
• 件名:
  • LCSH : Electron beams -- Instruments
  • LCSH : X-ray spectroscopy
  • LCSH : Electron probe microanalysis