Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

著者

• Beenker, F. P. M. (Frans P. M.)
• Bennetts, R. G.
• Thijssen, A. P.

書誌事項

Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen

（Frontiers in electronic testing）

Kluwer Academic Publishers, c1995

• : hard : alk. paper

注記

Includes bibliographical references (p. 197-205)

• NII書誌ID(NCID): BA27464389
• ISBN:
  • 0792396588
• LCCN: 95040166
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Dordrecht ; Boston
• ページ数/冊数: ix, 212 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874.65
  • DC20 : 621.3815/48
• 件名:
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Automatic checkout equipment
• 親書誌ID:
  • BA19587827