Iddq testing for CMOS VLSI

著者

• Rajsuman, Rochit

書誌事項

Iddq testing for CMOS VLSI

Rochit Rajsuman

（The Artech House optoelectronics library）

Artech House, c1995

注記

Includes bibliographical references(p.181-185) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA27561556
• ISBN:
  • 0890067260
• LCCN: 94021066
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xii, 193 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.99.M44
  • DC20 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Iddq testing
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA13923422