A probabilistic analysis of test-response compaction

著者

• Pilarski, Slawomir
• Kameda, Tiko

書誌事項

A probabilistic analysis of test-response compaction

Slawomir Pilarski and Tiko Kameda

IEEE Computer Society Press, c1995

注記

Includes bibliographical references (p. 89-94)

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA28646188
• ISBN:
  • 0818665327
• LCCN: 94027227
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Los Alamitos, Calif. ; Tokyo
• ページ数/冊数: x, 95 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : TK7867
  • DC20 : 621.3815/48/015192
• 件名:
  • LCSH : Electronic circuits -- Testing
  • LCSH : Fault-tolerant computing
  • LCSH : Probabilities