JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

Bibliographic Information

JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著

(I/F essence)

CQ出版, 1998.12

Title Transcription

JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ

Available at  / 26 libraries

Note

参考文献: p180

Description and Table of Contents

Description

本書では、比較的身近になったJTAG対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作することから始め、パソコンのプリンタポートを利用したTAP制御プログラムについてもC言語で紹介している。

Table of Contents

  • 第1章 JTAGテストの必要性
  • 第2章 JTAGテスト対応デバイスの仕組み
  • 第3章 JTAGテストの機能
  • 第4章 簡易版JTAGテストプログラムの実際
  • 第5章 JTAGテストの応用
  • 第6章 アナログICのJTAGテスト

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Details

  • NCID
    BA39259718
  • ISBN
    • 4789836827
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    182p
  • Size
    21cm
  • Classification
  • Subject Headings
  • Parent Bibliography ID
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