JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

Author(s)

• 坂巻, 佳寿美 サカマキ, カズミ

Bibliographic Information

JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著

（I/F essence）

CQ出版, 1998.12

Title Transcription

JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ

Note

参考文献: p180

Description and Table of Contents

Description

本書では、比較的身近になったＪＴＡＧ対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作することから始め、パソコンのプリンタポートを利用したＴＡＰ制御プログラムについてもＣ言語で紹介している。

Table of Contents

• 第１章　ＪＴＡＧテストの必要性
• 第２章　ＪＴＡＧテスト対応デバイスの仕組み
• 第３章　ＪＴＡＧテストの機能
• 第４章　簡易版ＪＴＡＧテストプログラムの実際
• 第５章　ＪＴＡＧテストの応用
• 第６章　アナログＩＣのＪＴＡＧテスト

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Details

• NCID: BA39259718
• ISBN:
  • 4789836827
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: 182p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 549.7
  • NDC9 : 549.7
• Subject Headings:
  • BSH : 集積回路
• Parent Bibliography ID:
  • BN02166189