JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

著者

• 坂巻, 佳寿美 サカマキ, カズミ

書誌事項

JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著

（I/F essence）

CQ出版, 1998.12

タイトル読み

JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ

注記

参考文献: p180

内容説明・目次

内容説明

本書では、比較的身近になったＪＴＡＧ対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作することから始め、パソコンのプリンタポートを利用したＴＡＰ制御プログラムについてもＣ言語で紹介している。

目次

• 第１章　ＪＴＡＧテストの必要性
• 第２章　ＪＴＡＧテスト対応デバイスの仕組み
• 第３章　ＪＴＡＧテストの機能
• 第４章　簡易版ＪＴＡＧテストプログラムの実際
• 第５章　ＪＴＡＧテストの応用
• 第６章　アナログＩＣのＪＴＡＧテスト

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA39259718
• ISBN:
  • 4789836827
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 182p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.7
  • NDC9 : 549.7
• 件名:
  • BSH : 集積回路
• 親書誌ID:
  • BN02166189