陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定
著者
書誌事項
陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定
（科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書, 平成9-10年度）
[出版者不明], 1999.3
- タイトル読み
-
ヨウデンシ ノ ショウメツ ト カクサン トクセイ ノ ドウジ ソクテイ ニヨル Si Ge チュウ ノ ネツヘイコウ ケッカン ノウド ノ セイミツ ケッテイ
大学図書館所蔵 件 / 全1件
-
該当する所蔵館はありません
- すべての絞り込み条件を解除する
この図書・雑誌をさがす
注記
研究課題番号: 09450005
研究代表者: 谷川庄一郎