Proceedings : The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, October 20-22, 1997, Paris, France

書誌事項

Proceedings : The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, October 20-22, 1997, Paris, France

sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on Fault-Tolerant Computing

IEEE Computer Society Press, c1997

  • : pbk.
  • : microfiche

タイトル別名

97TB100189

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注記

Includes bibliographical references and index

"IEEE catalog number 97TB100189"

内容説明・目次

内容説明

Papers from the 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerant in VLSI Systems.

「Nielsen BookData」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA43520028
  • ISBN
    • 0818681683
    • 0818681705
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Los Alamitos, CA. ; Tokyo
  • ページ数/冊数
    xi,314 p.
  • 大きさ
    23 cm
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