電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

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電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

研究代表者柿本浩一

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成9年度-平成11年度）

[九州大学], 2000.3

Other Title

平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813)

Title Transcription

デンシ デバイスヨウ バルク タンケッショウチュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ

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Details

  • NCID
    BA46682070
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    engjpn
  • Place of Publication
    [福岡]
  • Pages/Volumes
    1冊
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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