電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

著者

• 柿本, 浩一 カキモト, コウイチ

書誌事項

電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

研究代表者柿本浩一

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成9年度-平成11年度）

[九州大学], 2000.3

タイトル別名

平成9年度-平成11年度科学研究費補助金(基盤研究C(2))研究成果報告書(09650813)

タイトル読み

デンシ デバイスヨウ バルク タンケッショウチュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA46682070
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: engjpn
• 出版地: [福岡]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA30195401