Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA

著者

    • Chen, Philip T.
    • Uy, O. Manuel

書誌事項

Optical systems contamination and degradation II : effects, measurements, and control : 2-3 August 2000, San Diego, USA

Philip T. Chen, O. Manuel Uy, chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering

(Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 4096)

SPIE, c2000

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  • Proceedings

    SPIE -- the International Society for Optical Engineering

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA4868280X
  • ISBN
    • 0819437417
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Bellingham, Wash., USA
  • ページ数/冊数
    v, 204 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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