1999 4th International Workshop on Statistical Metrology, June 12, 1999, Kyoto

著者

• International Workshop on Statistical Metrology
• IEEE Electron Devices Society
• VLSI Symposium
• 応用物理学会 オウヨウ ブツリ ガッカイ
• IEEE Electron Devices. Tokyo Chapter
• 電子情報通信学会 デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ

書誌事項

1999 4th International Workshop on Statistical Metrology, June 12, 1999, Kyoto

technical co-sponsored by IEEE Electron Devices Society ; co-sponsored by VLSI Symposium, the Japan Society of Applied Physics, IEEE ED Tokyo Chapter ; in cooperation with the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Business Center for Academic Societies Japan, [1999]

• :softbound

タイトル別名

IWSM

99TH8391

注記

"IEEE cat. no. 99TH8391."--T.p. verso

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA48946730
• ISBN:
  • 0780351541
• LCCN: 98088036
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Tokyo, Japan
• ページ数/冊数: vi, 65 p.
• 大きさ: 28 cm