2000 5th International Workshop on Statistical Metrology, June 11, 2000, Hawaii

著者

書誌事項

2000 5th International Workshop on Statistical Metrology, June 11, 2000, Hawaii

[sponsored by] The IEEE Electron Devices Society

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2000

  • : pbk

タイトル別名

IWSM

00TH8489

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注記

"IEEE cat. no. 00TH8489."

Includes bibliographical references

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA49782060
  • ISBN
    • 0780358961
  • LCCN
    99067646
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    83 p.
  • 大きさ
    28 cm
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