Electron microscopy and analysis

著者

• Goodhew, Peter J.
• Humphreys, F. J.
• Beanland, Richard

書誌事項

Electron microscopy and analysis

Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland

Taylor & Francis, 2001

3rd ed

• : pbk

注記

Includes bibliographical references (p. [236]-237) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA50327447
• ISBN:
  • 0748409688
• LCCN: 00037716
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: x, 251 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.E4
  • DC21 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy