TOEICテストイディオム

著者

    • 板場, 良久 イタバ, ヨシヒサ

書誌事項

TOEICテストイディオム

板場良久著

(TOEIC大戦略シリーズ「730点突破をめざして」, 6)

旺文社, 1998.10

タイトル読み

TOEIC テスト イディオム

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注記

監修: 松本茂

発行年はカバーによる

内容説明・目次

目次

  • What’s TOEIC?
  • 1 自己診断テスト
  • 2 基礎編—500点をクリアするために
  • 3 応用編—めざせ730点以上
  • 4 総合診断

「BOOKデータベース」 より

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA5231537X
  • ISBN
    • 401093476X
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    239p
  • 大きさ
    21cm
  • 親書誌ID
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