Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the International Symposium

書誌事項

Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the International Symposium

editors, D.C. Hansen, H.S. Issacs, K. Sieradzki

(Proceedings / [Electrochemical Society], v. 2000-35)

Electrochemical Society, c2001

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注記

"Corrosion, Electrodeposition and Physical Electrochemistry Divisions"--on T.p

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  • Proceedings

    [Electrochemical Society]

    Electrochemical Society

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA54496592
  • ISBN
    • 1566773024
  • LCCN
    01086650
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Pennington, N.J.
  • ページ数/冊数
    viii, 212 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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