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X線分析最前線

佐藤公隆編集

アグネ技術センター, 2002.3

改訂

Other Title

X線分析最前線

Title Transcription

Xセン ブンセキ サイゼンセン

Available at  / 83 libraries

Note

監修: 合志陽一

X線分析100年略年表 木村正雄作成: p375-376

Description and Table of Contents

Description

「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。

Table of Contents

  • 総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け—なぜX線分析を使うのか)
  • 方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析;イオン励起X線分析(PIXE) ほか)
  • 応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析;カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか)

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Details

  • NCID
    BA56252577
  • ISBN
    • 4900041955
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    viii, 386p
  • Size
    21cm
  • Classification
  • Subject Headings
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