X線分析最前線
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X線分析最前線
アグネ技術センター, 2002.3
改訂
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X線分析最前線
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Xセン ブンセキ サイゼンセン
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監修: 合志陽一
X線分析100年略年表 木村正雄作成: p375-376
Description and Table of Contents
Description
「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でＰＩＸＥや全反射蛍光Ｘ線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してＸ線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
Table of Contents
- 総論（新たな発展期を迎えたＸ線分析；Ｘ線分析の特徴と使い分け—なぜＸ線分析を使うのか）
- 方法論（全反射蛍光Ｘ線分析；蛍光Ｘ線の干渉現象；Ｘ線回折分析；イオン励起Ｘ線分析（ＰＩＸＥ） ほか）
- 応用編（半導体材料とＸ線分析；金属・無機材料とＸ線分析；有機・高分子材料とＸ線分析；カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか）
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