X線分析最前線
著者
書誌事項
X線分析最前線
アグネ技術センター, 2002.3
改訂
- タイトル別名
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X線分析最前線
- タイトル読み
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Xセン ブンセキ サイゼンセン
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注記
監修: 合志陽一
X線分析100年略年表 木村正雄作成: p375-376
内容説明・目次
内容説明
「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次
- 総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け—なぜX線分析を使うのか)
- 方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析;イオン励起X線分析(PIXE) ほか)
- 応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析;カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか)
「BOOKデータベース」 より