Annual Reliability and Maintainability Symposium : 2002 proceedings : Seattle, Washington USA, 2002 January 28-31

書誌事項

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 2002 proceedings : Seattle, Washington USA, 2002 January 28-31

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2002

  • : soft.
  • : CD-ROM

タイトル別名

02CH37318

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注記

Includes bibliographical references and index

"IEEE catalog number: 02CH37318" -- T. p. verso

"The International Symposium on Product Quality & Integrity"

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA5654853X
  • ISBN
    • 0780373480
    • 0780373499
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, NJ
  • ページ数/冊数
    xxiv, 662 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 分類
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