Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability

著者

• Dumin, D. J.

書誌事項

Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability

editor, D. J. Dumin

（Selected topics in electronics and systems, v. 23）

World Scientific, c2002

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA56959953
• ISBN:
  • 9810248423
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore ; New Jersey ; London ; Hong Kong
• ページ数/冊数: ix, 270 p.
• 大きさ: 26 cm
• 親書誌ID:
  • BA26914876