Boundary-scan interconnect diagnosis

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Boundary-scan interconnect diagnosis

by José T. De Sousa and Peter Y.K. Cheung

(Frontiers in electronic testing)

Kluwer Academic Publisher, c2001

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA57325097
  • ISBN
    • 0792373146
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Boston
  • ページ数/冊数
    xxi, 168 p.
  • 親書誌ID
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