Fundamental gas-phase and surface chemistry of vapor-phase deposition II and process control, diagnostics, and modeling in semiconductor manufacturing IV : proceedings of the international symposium

書誌事項

Fundamental gas-phase and surface chemistry of vapor-phase deposition II and process control, diagnostics, and modeling in semiconductor manufacturing IV : proceedings of the international symposium

editors, M.T. Swihart, M.D. Allendorf, M. Meyyappan

(Proceedings / [Electrochemical Society], v. 2001-13)

Electrochemical Society, c2001

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注記

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  • Proceedings

    [Electrochemical Society]

    Electrochemical Society

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA59006533
  • ISBN
    • 1566773199
  • LCCN
    2001092515
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Pennington, N.J.
  • ページ数/冊数
    ix, 508 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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