Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State
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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State
（Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler, v. 182）（Physics and astronomy online library）
Springer, c2003
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注記
Includes bibliographical references and index
