Proceedings, 21st IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2003) : 27 April-1 May 2003, Napa Valley, California
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Proceedings, 21st IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2003) : 27 April-1 May 2003, Napa Valley, California
IEEE Computer Society, c2003
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PR01924
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注記
Includes bibliographical references and index
"IEEE Computer Society Press order number PR01924" -- T. p. verso
内容説明・目次
内容説明
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
「Nielsen BookData」 より