Sampled-date control systems

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Sampled-date control systems

Eliahu I. Jury

John Willey , Chapman, c1958

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA63344890
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York,London
  • ページ数/冊数
    xv, 453 p.
  • 大きさ
    24cm.
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