プラズマ中の電場測定におけるミクロ電場の分離 : (超高感度量子干渉・レーザー誘起蛍光偏光分光法の利用)

Author(s)

    • 多幾山, 憲 タキヤマ, ケン

Bibliographic Information

プラズマ中の電場測定におけるミクロ電場の分離 : (超高感度量子干渉・レーザー誘起蛍光偏光分光法の利用)

研究代表者 多幾山憲

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成12年度-平成13年度）

[多幾山憲], 2002.3

Title Transcription

プラズマチュウ ノ デンバ ソクテイ ニオケル ミクロ デンバ ノ ブンリ : チョウコウカンド リョウシ カンショウ レーザー ユウキ ケイコウ ヘンコウ ブンコウホウ ノ リヨウ

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Note

課題番号: 12680479

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Details

  • NCID
    BA64069601
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    [東広島]
  • Pages/Volumes
    1冊
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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