プラズマ中の電場測定におけるミクロ電場の分離 : (超高感度量子干渉・レーザー誘起蛍光偏光分光法の利用)

著者

    • 多幾山, 憲 タキヤマ, ケン

書誌事項

プラズマ中の電場測定におけるミクロ電場の分離 : (超高感度量子干渉・レーザー誘起蛍光偏光分光法の利用)

研究代表者 多幾山憲

(科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成12年度-平成13年度)

[多幾山憲], 2002.3

タイトル読み

プラズマチュウ ノ デンバ ソクテイ ニオケル ミクロ デンバ ノ ブンリ : チョウコウカンド リョウシ カンショウ レーザー ユウキ ケイコウ ヘンコウ ブンコウホウ ノ リヨウ

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注記

課題番号: 12680479

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA64069601
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    [東広島]
  • ページ数/冊数
    1冊
  • 大きさ
    30cm
  • 親書誌ID
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