Sampling, wavelets, and tomography

著者

• Benedetto, John
• Zayed, Ahmed I.

書誌事項

Sampling, wavelets, and tomography

John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors

（Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto）

Birkhäuser, c2004

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA65445334
• ISBN:
  • 0817643044
• LCCN: 2003061722
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xxi, 344 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QA403
  • DC22 : 515/.2433
• 件名:
  • LCSH : Harmonic analysis
  • LCSH : Wavelets (Mathematics)
  • LCSH : Fourier analysis
  • LCSH : Sampling (Statistics)
  • LCSH : Tomography
• 親書誌ID:
  • BA30247287