SAE residual stress measurement by x-ray diffraction

著者

    • SAE International

書誌事項

SAE residual stress measurement by x-ray diffraction

（SAE international, HS-784）

SAE International, c2003

2003 ed

タイトル別名

Residual stress measurement by x-ray diffraction

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注記

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA67224518
  • ISBN
    • 9780768010695
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Warrendale, Pa.
  • ページ数/冊数
    ix, 84 p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
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