Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

著者

• IEEE VLSI Test Symposium
• IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council

書誌事項

Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council

IEEE Computer Society, c2004

タイトル別名

VTS04

注記

IEEE Computer Society order number: PR2134

Includes bibliographical references and index

内容説明・目次

内容説明

The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.

「Nielsen BookData」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA67539723
• ISBN:
  • 0769521347
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Los Alamitos, Calif.
• ページ数/冊数: xxvii, 406 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • DC20 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses