Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

著者

• IEEE VLSI Test Symposium
• IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council

書誌事項

Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council

IEEE Computer Society, c2004

タイトル別名

VTS04

注記

IEEE Computer Society order number: PR2134

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA67539723
• ISBN:
  • 0769521347
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Los Alamitos, Calif.
• ページ数/冊数: xxvii, 406 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • DC20 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses