Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns

著者

• Hamdioui, Said

書誌事項

Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns

by Said Hamdioui

（Frontiers in electronic testing, 26）

Kluwer Academic, c2004

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA67959580
• ISBN:
  • 1402077521
• LCCN: 2004041373
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: xx, 221 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7895.M4
  • DC22 : 004.5/3
• 件名:
  • LCSH : Random access memory -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA19587827