高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測

著者

• 宇宙航空研究開発機構 ウチュウ コウクウ ケンキュウ カイハツ キコウ
• 芳仲敏成 ヨシナカ, トシナリ

書誌事項

高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測

宇宙航空研究開発機構編 ; 芳仲敏成, 総合技術研究本部システム評価技術グループ[著]

（宇宙航空研究開発機構研究開発資料, JAXA-RM-03-012）

宇宙航空研究開発機構, 2004.3

タイトル別名

Temperature measurements for the CVD-Sic static heating tests

タイトル読み

コウジュンド CVD-SiC セイテキ カネツ シケンジ ノ オンド ブンプ ケイソク

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA70459021
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 調布
• ページ数/冊数: 34p
• 大きさ: 30cm
• 分類:
  • NDLC : Y251
• 親書誌ID:
  • BA69053154