Proceedings, 12th Asian Test Symposium, ATS 2003, 16-19 November 2003, Xi'an, China

書誌事項

Proceedings, 12th Asian Test Symposium, ATS 2003, 16-19 November 2003, Xi'an, China

sponsored by Test Technology Technical Council of IEEE Computer Society ; in cooperation with Technical Committee on Fault Tolerant Computing of CCF National Natural Science Foundation of China (NSFC)

IEEE Computer Society, c2003

タイトル別名

Twelfth Asian Test Symposium (ATS 2003)

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注記

"IEEE Computer Society Order Number PR01951"--T.p. verso

Includes bibliographical references and index

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA71441043
  • ISBN
    • 0769519512
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Los Alamitos, Calif.
  • ページ数/冊数
    xxi, 517 p.
  • 大きさ
    28 cm
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