Embedded processor-based self-test

著者

    • Gizopoulos, Dimitris
    • Paschalis, Antonis
    • Zorian, Yervant

書誌事項

Embedded processor-based self-test

by Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis and Yervant Zorian

（Frontiers in electronic testing, 28）

Kluwer Academic, c2004

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注記

Includes bibliographical references (p.[197]-212) and index

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA72886191
  • ISBN
    • 1402027850
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Boston
  • ページ数/冊数
    xiv, 216 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 親書誌ID
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