Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization

著者

    • Larsson, Erik

書誌事項

Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization

by Erik Larsson

(Frontiers in electronic testing, 29)

Springer, c2005

  • : hb

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注記

Includes bibliographical references (p.[353]-382) and index

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA7288803X
  • ISBN
    • 1402032072
  • 出版国コード
    ne
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Dordrecht
  • ページ数/冊数
    xv, 388 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 親書誌ID
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